Banc d’analyse en fluorescence X (« Scanner XRF »)
Description de l’instrument :
Le banc d’analyse en fluorescence X (ou scanner XRF), modèle Avaatech de 4ème génération acquis en 2019, permet la mesure à haute résolution (échelle centimétrique à submillimétrique, descendant jusqu’à 100 µm) de la composition chimique des sédiments marins et continentaux. Cette analyse semi-quantitative donne accès à la teneur en éléments majeurs et mineurs (Mg à Ba) du sédiment, de façon ultra-rapide, non-destructive, et avec une préparation très limitée des carottes sédimentaires. La mesure tous les 1 cm d’un mètre de carotte (à 10, 30 et 50 kV) prend 2h30 environ.
Principe de l’analyse :
La teneur en éléments est mesurée par fluorescence X directement à la surface (préalablement lissée et recouverte d’un film fin et transparent) de la carotte sédimentaire. Les rayons X primaires émis par une source d’excitation d’intensité et tension variables provoquent une ionisation des atomes du sédiment, et une réorganisation des électrons au sein des couches électroniques des atomes. Celle-ci engendre l’émission de rayons X secondaires dont l’énergie est caractéristique de l’atome émetteur. Le détecteur à dispersion d’énergie mesure la distribution d’énergie du rayonnement X secondaire, de laquelle le logiciel bAxil® déduit le nombre de coups de chaque élément.
Analyses réalisées sur l’instrument :
Teneur en éléments majeurs et mineurs (Mg à Ba) mesurée à la surface du sédiment de carotte.
Contacts :
Aline Govin : Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.
Camille Wandres : Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.